从研发验证到 ATE 量产筛选，覆盖眼图、BERT 误码率、CDR 抖动容忍度、Burn-in 老化的全流程光互连测试能力
AI 训练集群和超大规模数据中心对网络互连带宽的需求以每两年翻倍的速度增长。400G 已大规模商用，800G 快速部署，1.6T 进入研发量产阶段——每一代速率提升都带来更严苛的信号完整性挑战：PAM4 眼图容限缩小、BER 要求更低、CDR 锁定范围更窄。
元铭代理 Anritsu MP2110A 采样示波器及 MP1900A 高速误码仪（BERT）等业界顶级测试仪器，为光模块厂商、硅光芯片设计公司及数据中心运营商提供从器件级到系统级的完整测试方案。
从采样示波器眼图到 ATE 自动化量产筛选，全流程覆盖
使用 Anritsu MP2110A 采样示波器进行 PAM4 / NRZ 信号眼图测量，自动计算眼高、眼宽、消光比（ER）、时钟抖动（Tj/Dj/Rj），并执行 TDP 发射机色散代价模板一致性测试，符合 IEEE 802.3cd / OIF-CEI-56G 规范。MP2110A 内置双采样模块，支持电口与光口同步测量，单台即可完成完整的光模块信号完整性评估。
Anritsu MP1900A / Spirent 高速误码仪支持 106.25 Gbps 及以上单通道速率，BER 下限测量至 1E-15，内置 PRBS 序列发生器与错误统计，配合 FEC 分析可在分钟级完成等效 BER 评估，大幅缩短测试时间。
向被测 CDR 注入正弦抖动，扫描不同频率和幅度下的 BER 容忍边界，绘制 JTOL 曲线，评估时钟数据恢复电路在恶劣信道条件下的锁定范围与均衡性能，符合 IEEE 802.3ck / OIF-CEI-112G JTOL 测试规范。
在 85°C 高温应力条件下对光模块进行 48～168 小时加速老化，同步实时监测光功率、BER 与偏置电流变化，筛除早期失效器件（Infant Mortality），确保出厂良率与可靠性满足 Telcordia GR-468 标准。
基于 Python / LabVIEW 构建的自动化测试框架，支持多通道并行测试、自动换料与数据上报，典型测试节拍可压缩至 30 秒/件以内，覆盖光功率、ER、偏置电流、BER 全参数自动判定与追溯，适用于 QSFP-DD / OSFP 量产筛选。
针对 Mach-Zehnder 调制器（MZM）和环形调制器（Ring Mod），测量电光带宽（EO BW）、半波电压（Vπ）、插入损耗（IL）、偏振相关损耗（PDL）及消光比，为硅光工艺流程（PDK）验证提供精确数据。
AI 训练集群采用 400G/800G QSFP-DD / OSFP 模块实现 GPU 互连，信号完整性直接影响模型训练效率和集群稳定性。元铭方案覆盖模块入网前验证和在线链路质量监测。
硅光 Foundry 和设计公司需要在流片后快速完成器件特性表征，验证 PDK 模型准确性，为下一次流片迭代提供数据支撑。元铭方案支持探针台集成和晶圆级测试。
CPO 将光引擎与 51.2T 交换芯片共封装，大幅降低互连功耗。其开发验证需要光电联合测试能力：在高温封装环境下同步评估热阻、光功率和 BER 性能。